京都大學短期移地研究-層狀材料NbSe2電荷密度波斷層掃描之分析與討論

【基本資料】
報告名稱:京都大學短期移地研究-層狀材料NbSe2電荷密度波斷層掃描之分析與討論
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報告日期:2023-11-20

【所屬單位資訊】
出國人員:吳峻瑜
單位職稱:國立陽明交通大學 博士生
出國期間:2023-11-07 至 2023-11-12

【其他資料】
前往地區:日本
參訪機關: 京都大學
出國類別:出國短期研究

【報告內容摘要】
京都大學是世界知名且具有頂尖科研實力的日本國立綜合大學。本次移地研究前往京都大學, 和擅長掃描穿隧顯微鏡 (STM) 與奈米材料科學領域,且具有長期合作關係的高木紀明教授研討本次研究:層狀材料NbSe2電荷密度波斷層掃描的結果與分析,並為撰寫論文且出版期刊做準備。經過討論,我們發現現有的實驗數據尚不足以說明STM影像和實際探針位置,理論模擬圖…等等之間的對應關係以及其真實性與可行性。而在高木老師的建議下,我們補足I-Z curve這一關鍵實驗數據,發現探針位置和理論模擬圖,還有和STM影像之間吻合得十分漂亮, 足以佐證使用STM進行電荷密度波之斷層掃描的真實性與可行性, 讓本研究更具說服力。